טקטרוניקס שילבה את קונספט המיינפריים בצב"ד אופטי מודולרי
30 נובמבר, 2021
משפחת האוסילוסקופים החדשה Tektronix 8 Series נועדה לענות לדרישה הגוברת של הלקוחות לבדוק מערכות תקשורת אופטיות בעלות תפוקה גבוהה ופרוטוקולים ייעודים המאופננים בטכנולוגיות PAM-4
חברת טקטרוניקס (Tektronix) הביאה את תפישת ה-Mainframe מתחום הצב"ד החשמלי אל הציוד האופטי, ומשווקת כיום את האוסילוסקופ האופטי Tektronix 8 Series במתכונת של מארז תשתית אחיד במסד 3U, שאליו ניתן לחבר מודול ייעודי ולקבל מכשיר המותאם לצורכי הלקוח. לדברי מנהל השיווק הטכני חברה, דין מיילס, משפחת האוסילוסקופים החדשה נועדה לספק מענה לדרישה הגוברת של הלקוחות לבדוק מערכות תקשורת אופטיות מהירות מאוד ופרוטוקולים ייעודים המאופננים בטכנולוגיות PAM-4.
בשיחה עם Techtime הוא הסביר שהגישה החדשה נועדה להוזיל את העלויות ולספק פתרון מותאם לכל לקוח. "בתצורה הקלאסית של אוסילוסקופים נמצאות כל המערכות במארז אחד. בתצוקת מיינפריים ניתן להחליף בקלות את המודול הייעודי ולקבל מכשיר המבצע בדיקות שונות. בנוסף, פיתחנו עבור המשפחה החדשה את תוכנת הבקרה TSOVu, אשר פועלת במחשב נפרד של הלקוח ומאפשרת לנהל את כל הבדיקות באמצעות הרשת, גם באתרים מרוחקים מאוד מנקודת המדידה עצמה".
המודולים הראשונים של המשפחה החדשה הם TSO8C17/18 מספקים יכולות בדיקה של אותות אופטיים באורכי גל של 850nm-1550nm וברוחב פס של יותר מ-30GHz. החברה מעריכה שמארז המיינפריים החדש, TSO820, יחליף בהדרגה את מכשירי DSA8300 של הדור הקודם. בין השאר בזכות יכולת ביצוע מדידות אופטיות בעומסים של עד 53GBd. המודולים במשפחת סדרה 8 מיועדים לבדיקת אותות מחזוריים, ולכן כדי שיוכלו להתמודד עם אותות מהירים מאוד המודולים מבוססים על טכנולוגיית הדגימה שקיבלה את הכינוי Tektronix Sampling Oscilloscope – TSO.
מארז TSO820 ביחד עם המודולים TSO8C17/TSO8C18 ו-Optical Clock Recovery מדגם TCR801"בניגוד לדגימה בזמן אמת שבה קצב הדגימה צריך להיות גבוה מתדר האות, בטכניקת TSO האות נדגם בכל מחזור בנקודה אחרת. הדבר מאפשר לשחזר את האות ולייצג אותו באמצעות ממירי אותות איטיים יחסית אולם בעלי רזולוציה ודיוק גבוהים מאוד. תוכנת TSOVu היא מוצר חדש שפיתחנו עבור מכשירי סדרה 8. היא מאפשרת לבצע בדיקות מורכבות מאוד באופן אוטומטי, או לנהל בדיקות מרחוק, או לשתף בדיקות בין מספר צוותים המצויים באתרים מרוחקים אחד מהשני".
פורסם בקטגוריות: Test & Measurments , אלקטרואופטיקה , חדשות , ציוד בדיקה
פורסם בתגיות: אוסילוסקופ , טקטרוניקס , צב"ד