סמינר Keysight ליסודות המדידות בתחומי האלחוט
21 ספטמבר, 2018
ביום ה', ה-18 באוקטובר 2018 תקיים חברת קיסייט הדרכה מיוחדת המוקדת למושגי יסוד בתחום מדידות RF, מיקרוגל וגלים מילימטריים: נתחי רשת, נתחי ספטרום ונתחים וקטוריים - תכונותיהם המיוחדות וכיצד להשתמש בהם נכון
חברת קיסייט תקיים סמינר הדרכה בתחום ה-RF והמיקרוגלים שיתקיים בעברית ובאנגלית ביום ה' ה-18 באוקטובר 2018. הסמינר יעניק למהנדסים את המושגים הבסיסיים והתובנות המרכזיות בנושאי מדידות וימתקד בארבעה נושאים מרכזיים: מושגי יסוד במדידות יסודות והבנת הניתוח של הספקטרום (Spectrum Analysis Fundamentals), מושי יסוד בתחום ניתוח האותות הווקטורי (Vector Signal Analysis ), עקרונות יסוד בביצוע מדידות הספק למערכות אלחוטיות (RF Power Measurement) ומושגים בסיסיים בתחום נתחי הרשת (Network Analysis). הסדנא תסתיים בהדגמות מעשיות.
הסמינר ייפתח בסקירה של תחום ה-spectrum analysis שבו התחום יוגדר ויוצגו המדידות המרכזיות המתבצעות באמצעות נתחי ספקטרום ונתחי אותות. לאחר מכן יוצגו הנתחים בהיבטים שונים, כמו החומרה המרכיבה אותם, פקידו של כל מרכיב במערכת וכיצד היא פועלת בשלמותה. כדי לבצע מדידות באמצעות נתח אותו ולבצע אינטרפרטציה של התוצאות, יש צורך להבין את הנתח עצמו. שכן המיפרט של נתחי האות ונתחי הספקטרום יאפשרו למהנדס להבין האם המכשיר הספציפי יוכל לבצע את המדידה, ובמידה וכן, מה תהיה רמת הדיוק של המדידה.
יסודות ה-RF והסברת המושג S-parameter
בהצגת יסודות ניתוח האות הווקטורי, תיערך היכרות עם תוכנת 89600 VSA המאפשרת לטפל ב-75 סוגים שונים של אותות. במסגרת הזאת גם יוצג הטיפול באותות LTE-Advanced, 802.11ac, מדידות A/D, ניתוח אותות מכ"ם FMCW, איפנון אותות ועוד. ההרצאה בתחום ה-RF Power Measurement תכסה את סוגי המדידות, שיטות המדידה וחשובות המדידות השונות. במהלכה יוסברו גם ההבדלים בין טכנולוגיות חיישני ההספק השונים: thermistor, thermocouple וגלאי דיודה. בהמשך יתוארו גם מדידות מורכבות ביישומי RF ומיקרוגלים וחישובי אי-ודאות בתחומי ההספק.
ההדרכה בתחום Network Analysis תכלול סקירה של יסודות ה-RF והסברת המושג S-parameter וביצוע מדידות S-parameter באמצעות נתחי רשת וקטוריים (vector network analyzer – VNA). מדובר בכלי מדידות מאוד מדוייק הבודק את הביצועים החשמליים של רכיבים הפועלים בתדר גבוה בתחומי ה-RF, המיקרוגלים והגלים המילימטריים. מכשיר VNA הוא מערכת המגיבה לעירור וכולל מקור RF ומקלטי מדידה שונים. הוא מתוכנן במיוחד כדי למדוד את השתקפויות התדר ותגובות השידור (S-parameters) של רכיבי RF.
מדידות S-parameters כוללות מרכיב עוצמה (magnitude) ומרכיב פאזה (phase) ומאפשרות לאפיין את הביצועים של האבזר הנבדק (DUT). החומרה של נתח הרשת בנויה לעבודה הדורשת מהירות, מדידות בריקה והיא מהירה בהרבה בהשוואה לשימוש בציוד המספק מקור שידור יחיד ומקלט מדידה יחיד, כמו למשל נתח ספקטרום. באמצעות כיוונון נכון, ה-VNA מס]ק את רמת הדיוק הגבוהה ביותר כאשר מבצעים מדידות RF.
הסמינר מיועד למהנדסי פיתוח ואנשי הנדסה. ההשתתפות חינם.
למידע נוסף ורישום: RF and Microwave Measurement Insights
פורסם בקטגוריות: WIRELESS , חדשות , צב"ד , ציוד בדיקה
כתבות נוספות העשויות לעניין אותך
