Keysight: סמינר מדידת חומרים ורכיבים יתקיים ב-26 בנובמבר
18 נובמבר, 2018
הסמינר יתמקד באיפיון ומדידות רכיבים וחומרים מרמת ה-DC ועד רמת ה-mmWaves וה-THz. מושב מיוחד יוקדש לרכיבי הספק ולמדידת זרמים של יותר מ-1000A, זרמי זליגה נמוכים מפיקו-אמפר ומתחי פריצה גדולים מ-10kV
ביום ב' ה-26 בנובמבר 2018 תקיים חברת Keysight סמינר מיוחד בתל-אביב המוקדש לתחום המדידות והאיפיון של חומרים ורכיבי אלקטרוניקה. בשנים האחרונות חלו שינוים רבים בחומרים המשמשים את תעשיית האלקטרוניקה. חומרים חדשים בתעשיית השבבים, ננו-צינוריות פחמן (CNT), וגראפן הם רק חלק מהחומרים החדשים, המאפשרים לייצר רכיבים חדשים כמו זכרונות, מארזים, תאים סולאריים ורכיבי לוגיים מסוגים חדשים.
הסמינר מוקדש למדידות אימפדנס של חומרים חדשים ורכיבים המבוססים על החומרים החדשים, ויעניק הבנה של שיטות המדידה, המידע המופק מהן והיתרונות והחסרונות של שיטות מדידה שונות. הסמינר יתמקד במדידות דיאלקטריות של מוצקים ונוזלים ובאיפיון ומדידות רכיבים וחומרים מרמת ה-DC ועד רמת ה-mmWaves וה-THz, במיוחד בתחום שבין 100MHz ל-1.1THz.
סדר היום המתוכנן:
מושב מיוחד יתמקד במדידות של רכיבי הספק מסוג GaN ו-SiC באמצעות נתח ההספק Keysight B1505A Power Device Analyzer / Curve Tracer. טכנולוגיות חדשות בתחום רכיבי ההספק הפכו שיטות מדידה מסורתיות לבלתי רלוונטיות. יוצגו שיטות חדשות למדידת זרמים של יותר מ-1000A, מדידות זרמי זליגה נמוכים מפיקו-אמפר ומתחי פריצה גדולים מ-10kV. ההרצאה תתמקד בבדיקות IV ו-CV של רכיבי GaN ו-SiC.
למידע נוסף ורישום: Materials and Devices Measurement Insights
פורסם בקטגוריות: events , חדשות , ציוד בדיקה
פורסם בתגיות: KEYSIGHT
כתבות נוספות העשויות לעניין אותך
