שני יצרני שבבים בחרו במערכת Metrion של נובה
1 פברואר, 2026
המערכת נרכשה לשימוש בייצור שבבים מתקדמים מסוג Gate-All-Around ו-DRAM ומשקפת את הגידול בביקוש למערכות מטרולוגיה המשולבות בקווי הייצור
חברת נובה (Nova) דיווחה כי פלטפורמת המטרולוגיה שלה Nova Metrion נבחרה על ידי שני יצרנים גלובליים מובילים בתחום המעבדים ושבבי הזיכרון. על פי הודעת החברה, המערכת נרכשה לשימוש בקווי ייצור מתקדמים של התקני Gate-All-Around וכן שבבי DRAM, תחומים שבהם בקרת תהליך מדויקת נחשבת לקריטית ליכולת הייצור ולתפוקה.
העסקה משקפת את התרחבות השימוש בפתרונות מדידה המשולבים ישירות בקווי הייצור עצמם, על רקע המורכבות ההולכת וגוברת של תהליכי ייצור שבבים בצמתים מתקדמים. מערכת Nova Metrion מבוססת על טכנולוגיית Secondary Ion Mass Spectrometry ומאפשרת ניתוח כמותי של הרכב חומרים ודופנטים בעומק שכבות הסיליקון. בניגוד לבדיקות SIMS מסורתיות המתבצעות לרוב בסביבת מעבדה מנותקת מקו הייצור, המערכת של נובה מיועדת לפעול כחלק מתהליך הייצור עצמו ולספק משוב מהיר יותר לצורך בקרת תהליך.
השימוש במדידות מסוג זה הופך משמעותי יותר ככל שהתעשייה עוברת לארכיטקטורות טרנזיסטורים מתקדמות כמו Gate-All-Around, שבהן סטיות קטנות בהרכב החומרים או בעומק השכבות עשויות להשפיע באופן ישיר על ביצועי הרכיב הסופי. גם בשוק הזיכרון, ובפרט בייצור DRAM מתקדם, הדיוק בתהליכי הדופינג והמבנה החומרי הפך לגורם מרכזי בשיפור התפוקה ובהפחתת שיעור הפרוסות הפסולות.
המכירה עליה דיווחה נובה משתלבת במגמות רחבות יותר בתעשיית המוליכים-למחצה, הכוללות מעבר לצמתים טכנולוגיים מתקדמים, גידול בהיקפי הייצור של שבבים עבור יישומי בינה מלאכותית ומחשוב עתיר ביצועים, וכן דרישה לקיצור זמני משוב ולבקרה הדוקה יותר לאורך תהליך הייצור. מגמות אלו מחזקות את מעמדן של מערכות מטרולוגיה שמסוגלות לספק נתונים תפעוליים בזמן אמת או קרוב לכך, כחלק אינטגרלי מקווי הייצור עצמם.
פורסם בתגיות: GAA , Metrion , בדיקת חומרים , מטרולוגיה , נובה