InZiv גייסה 10 מיליון דולר; נשיא טאואר מצטרף כדירקטור

חברת InZiv מהר-חוצבים, אשר פיתחה מערכת בדיקה ננומטרית למסכים שטוחים, השלימה גיוס הון בהיקף של 10 מיליון דולר, בהובלת קרן ההון-סיכון הסינגפורית BlueRed Partners, ובהשתתפות OurCrowd הישראלית ועוד משקיעים מאסיה. בתוך כך, הודיעה החברה על הצטרפותו של יצחק אדרי, נשיא חברת טאואר סמיקונדקטור, לדירקטוריון החברה.

InZiv הוקמה בשנת 2018 על-ידי המנכ”ל דיוויד לואיס ועל-ידי הטכנולוגית הראשית רימה דכטר, שניהם בעלי תארים מתקדמים בפיזיקה מהאוניברסיטה העברית והתמחות באופטיקה ננומטרית. החברה פיתחה מערכת בדיקה ובקרת איכות המתבססת על אופטיקה ומטרולוגיה בקנה מידה ננומטרי, אשר מיועדת לשימוש יצרניות של מסכים שטוחים (FPD) לאבזרים וסמארטפונים ושל משקפי מציאות וירטואלית ורבודה.

השיפור הניכר ברזולוציה ובחדות של המסכים המתקדמים כיום בשוק, כגון OLED, MicroLED ו-QLED, מושג הודות למזעור גודלם של הפיקסלים, שהם היחידות הבסיסיות הפולטות אור מן המסך. ככל שהפיקסלים קטנים, ניתן לדחוס יותר פיקסלים במסך והדבר מתבטא באיכות התמונה על המסך. בשנים האחרונות הצליחה התעשייה הלקטין את גודל הפיקסלים מכמה מאות מיקרונים לפיקסל עד לגודל של כמה מיקרונים בודדים במסכים מיוחדים. תהליך המיזעור הזה החל בתעשיית הסמארטפונים, וצפוי רק לצבור תאוצה עם התפחות שוק משקפי ה-AR/VR, שבו הרזולציה צריכה להיות גבוהה אף יותר בשל קרבת המסך לעיני המשתמש.

לראות בתוך המבנה הפנימי של הפיקסל

עם זאת, ככל שהפיקסלים קטנים יותר כך הם גם רגישים יותר לפגמים במהלך תהליך הייצור. גרגר אבק שחודר לקו הייצור או שינויי צבע מיקרוסקופיים עשויים להתבטא בירידה משמעותית באיכותו של המוצר המוגמר. כל זה מציב אתגר לא פשוט בבדיקת איכות המסכים בתהליך הייצור. ציוד הבדיקה הקיים בשוק, המתבסס על אופטיקה מיקרוסקופית סטנדרטית, מאפשר להגיע לרזולוציית בדיקה של כ-1 מיקרון (1,000 ננומטר), והדבר מגביל את יכולתן של המערכות הללו לזהות פגמים המתרחשים ברמת הפיקסל.

הליקוי הטכנולוגי הזה מתבטא בסופו של דבר בתשואה נמוכה יותר עבור היצרן, אשר נאלץ להיפטר מהמסכים הפגומים, ובעלויות גבוהות יותר עבור הצרכן. בריאיון ל-TechTime שהתקיים בתחילת 2019 לאחר השלמת גיוס ההון הראשוני, סיפר מנכ”ל InZiv ואחד ממיסדיה, דיוויד לואיס, על הבעיה הקיימת בשוק כיום: “ציוד הבדיקה הקיים מוגבל למדי ברמת המידע האופטי שהוא מספק, ועל כן מאוד קשה לאתר פגמים ולהבין את מקור הבעיה. מערכת הבדיקה שפיתחנו, המתבססת על אופטיקה ננומטרית ואמצעים מטרולוגיים מדויקים, מאפשרת להגיע לרזולוציה של כ-100 ננומטר. מאחר שהרזולוציה גבוהה יותר היצרן יכול לזהות, עוד בשלבים מוקדמים בתהליך הייצור, את הפגמים ומהי הבעיה בייצור שהובילה לכך. במסכים המתקדמים חלק מהפגמים מתרחשים ממש בתוך המבנה הפנימי של הפיקסל – והמערכת שלנו מסוגלת לזהות זאת.”