Agilent Technologies חשפה פתרונות מדידה לננוטכנולוגיה
30 דצמבר, 2010
טכניקת Nanoindentation (בדיקת ננו-קשיות) מאפשרת לבצע מדידות מהירות ומדויקות של חומרי שכבה דקה ללא תלות במצע. הטכניקה זמינה באופן בלעדי בפלטפורמת Agilent Nano Indenter G200
חברת Agilent Technologies מרחיבה את פעילותה בתחום הננו-טכנולוגיה. לאחרונה הודיעה החברה על טכניקה חדשה למדידת חומרי שכבה דקה ללא תלות במצע בשם Nanoindentation (בדיקת ננו-קשיות).
הטכניקה זמינה באופן בלעדי בפלטפורמת המכשור Agilent Nano Indenter G200. היא החדשה מאפשרת לבצע מדידות מהירות ומדויקות של חומרי שכבה דקה ללא תלות במצע, וכך מתאימה במיוחד להערכת המודולוס האלסטי של דוגמיות קשיחות הממוקמות על מצע רך, או של דוגמיות רכות על-גבי מצע קשיח.
ה-G200 נחשב לאחד מהמכשירים המדויקים והגמישים ביותר לבדיקות מכניות בקנה מידה ננומטרי. הוא מבוסס על הפעלה אלקטרומגנטית ומאפשר מדידה של מודולוס יאנג ושל הקשיחות בכפוף לתקן ISO 14577, ומדידת דפורמציה בסדרי גודל ננומטריים עד מילימטריים.
לאחרונה זכתה החברה בפרוייקט של הפקולטה להנדסת חשמל באוניברסיטת דרום דקוטה (SDSU) להתקנת 3 מיקרוסקופים כוח אטומי (AFM). שניים מן המיקרוסקופים: Agilent 5500 AFM ו-Agilent 5420 AFM, ישמשו את קבוצת הננו-מחקר לביצוע מדידות ברזולוציה גבוהה של מאפיינים חשמליים בחומרים פוטו-אקטיביים ובמבנים מסוג Photovoltaic. המיקרוסקופ השלישי, מדגם Agilent 5500 AFM, ישמש לחקר חומרי Photovoltaic אורגניים.
פורסם בקטגוריות: Test & Measurments , חדשות
