אג'ילנט תחשוף מכשיר בדיקות אוניברסלי בסמינר ה-Wireless במרץ

26 פברואר, 2013

הסמינר יתקיים בתל-אביב ויכלול חידושים בתחום המדידות בכל הטכנולוגיות החשובות ביותר כיום: LTE-Advanced, הגירה מהדור השלישי אל הדור הרביעי, תכנון מגברי RF עבור eNB, איפיון רכיבי RF, התמודדות עם 802.11ac, הסמכת ציוד ועוד

הסמינר יתקיים לאורך יום שלם ב-14.3.2013 בתל-אביב

חברת אג'ילנט טכנולוגיות (Agilent Technologies) תחשוף בחודש הבא בישראל פתרון בדיקות מרובה-פרוטוקולים למערכות תקשורת ניידות. החשיפה תתקיים במסגרת סמינר מיוחד לביצוע מדידות עבור מערכות אלחוטיות, שייערך ב-14 לחודש מרץ הקרוב (14.3.2013) בתל-אביב.

במהלך הארוע תחשוף החברה את פתרון הבדיקות האוניברסיל החדש E6607C EXT. המכשיר מאפשר לבצע בדיקות של מספר אבזרים אלחוטיים בו-זמנית. מדובר במטלה ההולכת ומסתבכת, לאור לאור העובדה שאבזרים ניידים כיום פועלים מול מספר רשתות אלחוטיות שונות בו-זמנית.

מדובר למעשה במעבדה שלמה בקופסא אחת, הכוללת נתח אותות וקטורי, , High-speed Sequence Analyzer, פורטים לבדיקות קלט/פלט בן-זמניות של פורמטים סלולריים שונים, וכמובן ארבע יציאות לבדיקות מערך התקשורת לניווט לווייני.

בסך הכל, הוא מבצע בדיקות לכל הפרוטוקולים האלחוטיים הנפוצים בשוק כמו LTE TDD/FDD, HSPA+, W-CDMA, 1xEV-DO, CDMA2000, GSM, EDGE-Evo, TD-SCDMA, WiMAX, Bluetooth, GPS/GNSS ועוד.

החברה מסרה שמערכת E6607C EXT החדשה תואמת לחלוטין לאחור למערכות הבדיקה מהדור הקודם: E6607B ו-E6617A. כדי להכין אותה להתמודדות עם אתגרים עתידיים היא מספקת כיסוי מלא של רוחב פס סלולרי עד ל-3.8GHz ותמיכה ברצפי בדיקות מהירים המיושמים בערכות השבבים האחרונות היוצאות לשוק.

הסמינר יתקיים לאורך יום שלם ויכלול חידושים בתחום המדידות בכל הטכנולוגיות החשובות ביותר כיום: LTE-Advanced, הגירה מהדור השלישי אל הדור הרביעי, תכנון מגברי RF עבור eNB, איפיון רכיבי RF, התמודדות עם אתגרי הבדיקה שמייצרים תקנים חדשים כמו 802.11ac, הסמכת ציוד ועוד.