טקטרוניקס חשפה החודש סדרת פתרונות בדיקה חדשים

24 נובמבר, 2016

יצרנית ציוד הבדיקה האמריקאית, הציגה בתערוכת electronica 2016 מספר מערכות חדשות, בהן אוסילוסקופים, מחוללי אותות ציוד בדיקה נייד ומערכת לאיפון מוליכים למחצה

Share via Whatsapp

isovuיצרנית ציוד הבדיקה האמריקאית, הציגה בתערוכת electronica 2016 מספר מערכות חדשות, בהן אוסילוסקופים, מחוללי אותות ציוד בדיקה נייד ומערכת לאיפון מוליכים למחצה

חברת טקטרוניקס (Tektronix) האמריקאית הדגימה החודש סדרה רחבה של יישומי בדיקה מתקדמים במהלך תערוכת electronica 2016 הדו-שנתית שהתקיימה במינכן. הפתרונות והמוצרים החדשים מיועדים לשימוש בתחומים מתפתחים כמו IoT, ניתוח הספק, מחקר והכשרה, תכנון שבבים ובדיקות RF.

במסגרת ההכרזות, היא חשפה את האוסילוסקופ הבסיסי החדש  TBS2000, המצוייד בזיכרון ארוך מאוד ובצג רחב במיוחד (9-inch WVGA). האוסילוסקופ מופיע במספר דגמים, בעלי רוחב פס של 70MHz או 100MHz, עם שניים או ארבעה ערוצים. המוצר החדש מאפשר גם ללקוחות בעלי תקציב מוגבל להשתמש בכל הבחונים (probes) של חברת טקטרוניקס.

האוסילוסקופ החדש TBS2000
האוסילוסקופ החדש TBS2000

אחד מהאבזרים האלה יכול להיות גם מערך המדידה IsoVu™ Measurement System, המשתמש בטכנולוגיות אופטיות כדי לספק הפרדה מלאה (Complete galvanic isolation) למניעת עיוותים במדידות. טקטרוניקס מסרה שבאמצעות ממשק TekVPI, המערך מאפשר לבצע מדידה מדוייקת של אותות דיפרנציאליים ברוחב פס גדול מאוד ובנוכחות של מתחי common mode גבוהים.

מערכת נוספת שהוצגה היתה מחולל צורות הגל האקראי AWG4000 Series. המחולל הנייד החדש פועל במספר פרופילים שונים ומיועד לסייע לצוותי פיתוח לשתף מידע  ולספק מענה לצורכי ייצור האותות ביישומי מכ"ם, תקשורת אלחוטית ומערכות משובצות.

מחולל צורות הגל AWG4000
מחולל צורות הגל AWG4000

מערכת RSA500 החדשה היא חבילת כלים ניידת שלמה לביצועי בדיקות בשטח דוגמת ניתוחי ספקטרום, ניתוח וקטורי וניתוחי אותות כדי לאתר תקלות. היא מופיעה במארז מוקשח ומספקת יכולת עבודה בטווח התדרים של  9kHz-7.5GHz עם רוחב פס זמן אמת של עד 40MHz.

עבור יצרני שבבים, טקטרוניקס הציגה מערכת האיפיון Keithley 4200A-SCS אשר מאפשרת לבצע מדידות מדוייקות של מאפייני המוליך למחצה, ולייצר את הגרפים המתארים אותן, כמו פונצקיות מתח/זרם, קיבלויות/מתח, תגובות זרם/מתח לפולסים מהירים ועוד.  המערכת כוללת יכולת Multi-switch Module, המאפשרת לעבור במהירות בין מדידות  I-V למדידות C-V, בלא צורך בחיווט מחדש או בהחלפת פרובים.

פורסם בקטגוריות: Test & Measurments , חדשות , צב"ד , ציוד בדיקה